déphaser un signal triangulaire

Et bien essayons de préciser :

Soit une sonde qui pulvérise un morceau de wafer (à analyser)
Cette sonde pulvérise le matériaux en balayant un carré avec des signaux
en dents de scie :çà je peut pas changer.
Les ions extrait du matériaux sont accélérés à 4500V et traverse une
distance 1.8m.
Problème : entre le moment ou la sonde arrive à un endroit du carré
(enfin le cratère carré creusé) et le moment ou l'ion a atteint le
dispositif de comptage 1.8m plus loin et bien il s'écoule entre 2µs
(pour l'hydrogène) et une 30ène ou 40ène de µs.
De ce fait si je cherche à visualiser tel quel , et sachant que la sonde
qui creuse traverse le carré en environ 50µs et que le balayage est
triangulaire je me retrouve avec une image dédoublée : Si le signal
avait été en dent de scie on est d'accord pour dire que l'image de l'ion
va se retrouvé décalé à l'écran de l'image du temps de vol (par exemple
10µs pour un ion d'aluminium)
Or le signal est triangulaire ,et le l'image de l'ion va se retrouvée
dédoublée.
pour retrouvé une image recentrée et donc non dédoublé il me faut
déphaser le signal de balayage (ou faire un décalage comme à dit je sais
plus qui)CELA EXPLIQUE le déphasage;
Pourquoi un déphasage variable : et bien comme l'ion ont une masse
différente ,ils se retrouvent avec un temps de vol différents (les ions
les plus lourd mettent plus de temps à arriver au dispositif de
comptage.

J'espère avoir éclaircie (et pas trop fait mal à la tête pour cette fin
de semaine)

Merci c'est plus clair, au début ça aurait aidé.
On peut donc écrire :
1/ Un signal triangulaire à 10 kHz (fixe)
2/ Un déphasage réglable de 1 à 50 µs soit ->50%

si le besoin est urgent : je le fais avec un ou deux quad AOP un AOP
intégrateur transforme un carré en triangle très correctement, un AOP
comparateur (à hystérésis) avec un potentiomètre sur le triangle génère
le retard en livrant des carrés qui sont à nouveau intégrés en triangle.
Un ou deux AOP pour retourner les signaux etc...
sinon un PIC et du soft.

Et bien essayons de préciser :

Soit une sonde qui pulvérise un morceau de wafer (à analyser)
Cette sonde pulvérise le matériaux en balayant un carré avec des
signaux
en dents de scie :çà je peut pas changer.
Les ions extrait du matériaux sont accélérés à 4500V et traverse une
distance 1.8m.
Problème : entre le moment ou la sonde arrive à un endroit du carré
(enfin le cratère carré creusé) et le moment ou l'ion a atteint le
dispositif de comptage 1.8m plus loin et bien il s'écoule entre 2µs
(pour l'hydrogène) et une 30ène ou 40ène de µs.
De ce fait si je cherche à visualiser tel quel , et sachant que la
sonde
qui creuse traverse le carré en environ 50µs et que le balayage est
triangulaire je me retrouve avec une image dédoublée : Si le signal
avait été en dent de scie on est d'accord pour dire que l'image de
l'ion
va se retrouvé décalé à l'écran de l'image du temps de vol (par
exemple
10µs pour un ion d'aluminium)
Or le signal est triangulaire ,et le l'image de l'ion va se retrouvée
dédoublée.
pour retrouvé une image recentrée et donc non dédoublé il me faut
déphaser le signal de balayage (ou faire un décalage comme à dit je
sais
plus qui)CELA EXPLIQUE le déphasage;
Pourquoi un déphasage variable : et bien comme l'ion ont une masse
différente ,ils se retrouvent avec un temps de vol différents (les
ions
les plus lourd mettent plus de temps à arriver au dispositif de
comptage.

J'espère avoir éclaircie (et pas trop fait mal à la tête pour cette
fin
de semaine)

Merci c'est plus clair, au début ça aurait aidé.
On peut donc écrire :
1/ Un signal triangulaire à 10 kHz (fixe)
2/ Un déphasage réglable de 1 à 50 µs soit ->50%

si le besoin est urgent : je le fais avec un ou deux quad AOP un AOP
intégrateur transforme un carré en triangle très correctement, un AOP
comparateur (à hystérésis) avec un potentiomètre sur le triangle génère
le retard en livrant des carrés qui sont à nouveau intégrés en triangle.
Un ou deux AOP pour retourner les signaux etc...
sinon un PIC et du soft.


Pas trop urgent ,en plus je fait çà entre deux manips...

Et bien essayons de préciser :

Soit une sonde qui pulvérise un morceau de wafer (à analyser)
Cette sonde pulvérise le matériaux en balayant un carré avec des
signaux
en dents de scie :çà je peut pas changer.
Les ions extrait du matériaux sont accélérés à 4500V et traverse une
distance 1.8m.
Problème : entre le moment ou la sonde arrive à un endroit du carré
(enfin le cratère carré creusé) et le moment ou l'ion a atteint le
dispositif de comptage 1.8m plus loin et bien il s'écoule entre 2µs
(pour l'hydrogène) et une 30ène ou 40ène de µs.
De ce fait si je cherche à visualiser tel quel , et sachant que la
sonde
qui creuse traverse le carré en environ 50µs et que le balayage est
triangulaire je me retrouve avec une image dédoublée : Si le signal
avait été en dent de scie on est d'accord pour dire que l'image de
l'ion
va se retrouvé décalé à l'écran de l'image du temps de vol (par
exemple
10µs pour un ion d'aluminium)
Or le signal est triangulaire ,et le l'image de l'ion va se retrouvée
dédoublée.
pour retrouvé une image recentrée et donc non dédoublé il me faut
déphaser le signal de balayage (ou faire un décalage comme à dit je
sais
plus qui)CELA EXPLIQUE le déphasage;
Pourquoi un déphasage variable : et bien comme l'ion ont une masse
différente ,ils se retrouvent avec un temps de vol différents (les
ions
les plus lourd mettent plus de temps à arriver au dispositif de
comptage.

J'espère avoir éclaircie (et pas trop fait mal à la tête pour cette
fin
de semaine)

Merci c'est plus clair, au début ça aurait aidé.
On peut donc écrire :
1/ Un signal triangulaire à 10 kHz (fixe)
2/ Un déphasage réglable de 1 à 50 µs soit ->50%

si le besoin est urgent : je le fais avec un ou deux quad AOP un AOP
intégrateur transforme un carré en triangle très correctement, un AOP
comparateur (à hystérésis) avec un potentiomètre sur le triangle génère
le retard en livrant des carrés qui sont à nouveau intégrés en triangle.
Un ou deux AOP pour retourner les signaux etc...
sinon un PIC et du soft.


Pas trop urgent ,en plus je fait çà entre deux manips...

Si c'est pas trop urgent alors :


http://cjoint.com/?jeujCuJZdi

Merci je vais essayer la semaine prochaine ,et tiendrais de toute façons

Le 04/09/2010 20:13, Richard a écrit :


Et bien essayons de préciser :

Soit une sonde qui pulvérise un morceau de wafer (à analyser)
Cette sonde pulvérise le matériaux en balayant un carré avec des
signaux
en dents de scie :çà je peut pas changer.
Les ions extrait du matériaux sont accélérés à 4500V et traverse une
distance 1.8m.
Problème : entre le moment ou la sonde arrive à un endroit du carré
(enfin le cratère carré creusé) et le moment ou l'ion a atteint le
dispositif de comptage 1.8m plus loin et bien il s'écoule entre 2µs
(pour l'hydrogène) et une 30ène ou 40ène de µs.
De ce fait si je cherche à visualiser tel quel , et sachant que la
sonde
qui creuse traverse le carré en environ 50µs et que le balayage est
triangulaire je me retrouve avec une image dédoublée : Si le signal
avait été en dent de scie on est d'accord pour dire que l'image de
l'ion
va se retrouvé décalé à l'écran de l'image du temps de vol (par
exemple
10µs pour un ion d'aluminium)
Or le signal est triangulaire ,et le l'image de l'ion va se retrouvée
dédoublée.
pour retrouvé une image recentrée et donc non dédoublé il me faut
déphaser le signal de balayage (ou faire un décalage comme à dit je
sais
plus qui)CELA EXPLIQUE le déphasage;
Pourquoi un déphasage variable : et bien comme l'ion ont une masse
différente ,ils se retrouvent avec un temps de vol différents (les
ions
les plus lourd mettent plus de temps à arriver au dispositif de
comptage.

J'espère avoir éclaircie (et pas trop fait mal à la tête pour cette
fin
de semaine)

Merci c'est plus clair, au début ça aurait aidé.
On peut donc écrire :
1/ Un signal triangulaire à 10 kHz (fixe)
2/ Un déphasage réglable de 1 à 50 µs soit ->50%

si le besoin est urgent : je le fais avec un ou deux quad AOP un AOP
intégrateur transforme un carré en triangle très correctement, un AOP
comparateur (à hystérésis) avec un potentiomètre sur le triangle génère
le retard en livrant des carrés qui sont à nouveau intégrés en
triangle.
Un ou deux AOP pour retourner les signaux etc...
sinon un PIC et du soft.


Pas trop urgent ,en plus je fait çà entre deux manips...

Si c'est pas trop urgent alors :


http://cjoint.com/?jeujCuJZdi

Merci je vais essayer la semaine prochaine ,et tiendrais de toute façons
au courant de l'évolution ...
Attention il y a un piège dans le schéma du comparateur.

Si c'est pas trop urgent alors :
http://cjoint.com/?jeujCuJZdi

Si c'est pas trop urgent alors :
http://cjoint.com/?jeujCuJZdi

oops ... inversion de la sortie :
http://cjoint.com/?jfrSH5Ob2h

"Jean-Christophe" <5.d_at_free.fr> a écrit dans le message de news:

http://cjoint.com/?jfrSH5Ob2h

| quelle est la valeur de la composante continue en sortie ?

Elle vaut zéro si le signal d'entrée est lui-meme symétrique
(par rapport à la masse) donc que sa composante continue est nulle.

Si c'est pas trop urgent alors :
http://cjoint.com/?jeujCuJZdi

http://cjoint.com/?jfrSH5Ob2h

http://cjoint.com/?jfrSH5Ob2h
le probleme va venir de l'absence de signal ou de sa dissymetrie, a long
terme (pas si long que ca d'ailleurs) l'integrateur va partir en butée

http://cjoint.com/?jfrSH5Ob2h
le probleme va venir de l'absence de signal ou de sa dissymetrie, a long
terme (pas si long que ca d'ailleurs) l'integrateur va partir en butée

Ok, peut-etre ceci serait un début ?
http://cjoint.com/?jfs43reVu8